Akrometrix 热翘曲形变检测仪 AXP2.0
Akrometrix AXP 2.0是一种模块化计量解决方案，它利用Shadow Moiré 测量技术结合自动相位步进来表征最大 400 mm x 400 mm 的样品的翘曲形变。TherMoiré ® AXP 2.0具有时间-温度曲线分析功能，可在用户定义的热曲线期间捕获样品行为的完整历史记录。
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可用于各种实验室和生产车间应用：
1、故障/缺陷分析
2、质量保证/质量控制
3、零件跟踪技术支持大批量测试
4、通过/失败决策与行业标准，通过实时分析软件简化
5、通过界面分析软件进行连接界面之间的形状匹配
6、材料和设计选择
7、使用 DFP2 表征局部特征和台阶高度
8、FEA 模型验证
特点：
1、由 Akrometrix Studio 软件提供支持
2、最大样品尺寸可达 400 mm x 400 mm
3、在不到 2 秒的时间内采集 170 万个位移数据点
4、利用顶部和底部 IR 加热器提高温度均匀性
5、小尺寸样品的高分辨率测量
6、XY 轴应变和 CTE 计算，通过 DIC
7、通过先进的动力冷却提高实验室生产力
8、通过子房间模块支持从 150°C 到 -55°C 的可靠性测试和到 280°C+ 的回流模拟
9、多部件测试以提高吞吐量
规格参数：
视觉测量技术 AXP底座，100LPI光栅 200 lpi光栅 300 lpi光栅 最大视场(FOV) (mm) 影子波纹 影子波纹 影子波纹 最小视场(FOV) (mm) 375x375 375x375 250 x250 最大样本量(毫米) 348 x260 232x173 116x87 最小样本量(毫米) 400 x400 400 x400 250 x250 最大测量面共面度 6 x6 4x4 2 x2 视觉测量技术 4000微米 1000微米 250微米 分辨率，z轴(垂直位移) 2.5微米 1.25微米 0.85micons 精度，z轴(垂直位移) 2.5微米/ 3% 1.25微米/ 3% 0.85微米 / 3% 分辨率，xy轴(水平位移) N/A N/A N/A 应变分辨率 N/A N/A N/A 每次采集的最大测量点 1,447,680 1,447,680 1,447,680 最大测量密度(点每毫米²) 16 64 144 最小测量密度(点每毫米²) 7 7 18 热处理技术 辐射IR 辐射IR 辐射IR 最大加热速率，50°C到250°C(°C/s)* 3.5 3.5 3.5 最大冷却速率，250°C到125°C(°C/sec)* 2.25 2.25 2.25 最高温度(°C) 300 300 300 周期时间25°C ~ 250°C ~ 25°C(分钟)* 10 10 10 最大热配置文件 无限的 无限的 无限的 最大热循环时间 无限的 无限的 无限的 每周期最大采购量 无限的 无限的 无限的 自动数据收集 是 是 是 批处理数据分析 是 是 是 软件 Akrometrix Studio 8.1或更高版本 Akrometrix Studio 8.1或更高版本 Akrometrix Studio 8.1或更高版本 数据导出格式 txt, .dat . png txt, .dat . png txt, .dat . png 典型的样品设置时间 2分钟 2分钟 2分钟 样品制备方法，典型 没有一个 白漆 白漆 数据采集(测量)时间，近似 2秒 2秒 2秒 数据分析时间每采集，大致 2秒 2秒 2秒 约长、宽、高(mm) 1280x970x1780 1280x970x1780 1280x970x1780 Appromixate重量(公斤) 575 575 575 电力需求 220VAC, 3相，45A 220VAC, 3相，45A 220VAC, 3相，45A 空气的要求 N/A N/A N/A 其他实用程序 排气14286 lpm 排气14286 lpm 排气14286 lpm 可选模块提供先进的测量、处理和吞吐量能力：
1、数字图像相关 (DIC2)模块
2、对流回流仿真 (CRE6) 模块
3、数字边缘投影 (DFP2)模块
4、次室温模块 (SRM)
功能：
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