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Akrometrix 热翘曲形变检测仪 AXP2.0
Akrometrix AXP 2.0是一种模块化计量解决方案,它利用Shadow Moiré 测量技术结合自动相位步进来表征最大 400 mm x 400 mm 的样品的翘曲形变。TherMoiré ® AXP 2.0具有时间-温度曲线分析功能,可在用户定义的热曲线期间捕获样品行为的完整历史记录。

可用于各种实验室和生产车间应用:

1、故障/缺陷分析

2、质量保证/质量控制

3、零件跟踪技术支持大批量测试

4、通过/失败决策与行业标准,通过实时分析软件简化

5、通过界面分析软件进行连接界面之间的形状匹配

6、材料和设计选择

7、使用 DFP2 表征局部特征和台阶高度

8、FEA 模型验证

 

特点:

1、由 Akrometrix Studio 软件提供支持

2、最大样品尺寸可达 400 mm x 400 mm

3、在不到 2 秒的时间内采集 170 万个位移数据点

4、利用顶部和底部 IR 加热器提高温度均匀性

5、小尺寸样品的高分辨率测量

6、XY 轴应变和 CTE 计算,通过 DIC

7、通过先进的动力冷却提高实验室生产力

8、通过子房间模块支持从 150°C 到 -55°C 的可靠性测试和到 280°C+ 的回流模拟

9、多部件测试以提高吞吐量

 

规格参数:

视觉测量技术AXP底座,100LPI光栅200 lpi光栅300 lpi光栅
最大视场(FOV) (mm)影子波纹影子波纹影子波纹
最小视场(FOV) (mm)375x375375x375250 x250
最大样本量(毫米)348 x260232x173116x87
最小样本量(毫米)400 x400400 x400250 x250
最大测量面共面度6 x64x42 x2
视觉测量技术4000微米1000微米250微米
分辨率,z轴(垂直位移)2.5微米1.25微米0.85micons
精度,z轴(垂直位移)2.5微米/ 3%1.25微米/ 3%0.85微米 / 3%
分辨率,xy轴(水平位移)N/AN/AN/A
应变分辨率N/AN/AN/A
每次采集的最大测量点1,447,6801,447,6801,447,680
最大测量密度(点每毫米²)1664144
最小测量密度(点每毫米²)7718
热处理技术辐射IR辐射IR辐射IR
最大加热速率,50°C到250°C(°C/s)*3.53.53.5
最大冷却速率,250°C到125°C(°C/sec)*2.252.252.25
最高温度(°C)300300300
周期时间25°C ~ 250°C ~ 25°C(分钟)*101010
最大热配置文件无限的无限的无限的
最大热循环时间无限的无限的无限的
每周期最大采购量无限的无限的无限的
自动数据收集
批处理数据分析
软件Akrometrix Studio 8.1或更高版本Akrometrix Studio 8.1或更高版本Akrometrix Studio 8.1或更高版本
数据导出格式txt, .dat . pngtxt, .dat . pngtxt, .dat . png
典型的样品设置时间2分钟2分钟2分钟
样品制备方法,典型没有一个白漆白漆
数据采集(测量)时间,近似2秒2秒2秒
数据分析时间每采集,大致2秒2秒2秒
约长、宽、高(mm)1280x970x17801280x970x17801280x970x1780
Appromixate重量(公斤)575575575
电力需求220VAC, 3相,45A220VAC, 3相,45A220VAC, 3相,45A
空气的要求N/AN/AN/A
其他实用程序排气14286 lpm排气14286 lpm排气14286 lpm

 

可选模块提供先进的测量、处理和吞吐量能力:

1、数字图像相关 (DIC2)模块

2、对流回流仿真 (CRE6) 模块

3、数字边缘投影 (DFP2)模块

4、次室温模块 (SRM)

 

 

功能:

 

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