FT230镀层测厚仪

FT230台式XRF分析仪的设计大大减少了进行测量的时间。
自动化和创新软件是FT230分析仪的特点。智能识别模块，如Find My Part™（查找我的样品），意味着操作者只需装载样品，确认零件，FT230就会处理其余的事情。它将在您的部件上找到正确的测量位置--即使是在大型基材上--选择正确的分析程序并将结果发送到您的质量系统。减少了时间和人为的错误，使得你可以在更短的时间内完成更多的分析，使100%的检查在繁忙的生产环境中更加现实。

产品亮点

FT230的每一个部分都是为了大幅减少分析时间而设计的。

自动聚焦减少样品装载时间
Find My Part™ 自动进行智能识别以设置完整的测量程序
屏幕大部分区域用来显示样品视图，令人眼前一亮的可视度
自检诊断程序确保了仪器的状况和稳定性
与其他软件的无缝集成使其能够轻松导出数据

由于采用了新的用户界面，非专业人员也能直观、方便地使用。
功能强大，可同时测量四层镀层也可分析基质
经久耐用，在充满考验的生产或实验室环境中使用寿命长
符合ASTM B568和DIN ISO 3497标准
帮助您满足ENIG（IPC-4552B）、ENEPIG（IPC-4556）、浸没锡（IPC-4554）和浸没银（IPC-4553A）的规格要求

	FT230
元素范围	铝 (13) - 铀 (92)
探测器	硅漂移探测器 (SDD)
样品台设计	开槽和闭合
XY 样品台设计	电动或固定
XY 样品台行程	250 x 200 mm
电动Z轴行程	205 mm
最大样品尺寸	500 x 400 x 150 mm
直准器数量	4
焦点激光	包含在标准配置内
自动对焦	可选
广角摄像机	可选
距离无关测量	可选
Find My Part™ 智能识别功能	可选
镀层测量	✔️
RoHS 筛查	✔️
软件	FT Connect

尺寸和工作环境

详细内容

附件下载：

日立FT230镀层测厚仪.pdf

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