XU-100是一款高性价比型镀层测厚仪/膜厚测试仪/光谱测厚仪,采用下照式C型腔体设计,搭配微聚焦X射线发生器和高集成垂直光路系统,以及高敏变焦测距装置,对各种大小异形件都可快速、精准、无损测量。 检测各种金属镀层,检出限可达0.005μm,最小测量面积0.2mm²,凹槽深度测量范围可达0-30mm,是一款测量镀层厚度性价比高、适用性强的机型。
产品特点
1.下照式设计
可以快速方便地定位对焦样品。
2.高精密微型移动滑轨
快速精准定位样品。
3. 微焦X射线装置
最小检测面积可达0.2mm²的样品,可进行各类电镀层膜厚检测。
高效率正比接收器即使测试0.2mm²的样品,几秒钟也能达到稳定性。
4. 变焦装置算法
可对各种异形凹槽进行检测,凹槽深度测量范围可达0-30mm。
5.先进的EFP算法
多层多元素,包括有同种元素在不同涂镀层的检测,都可以快、准、稳的做出数据分析。
规格参数
电源 | 220VAC |
功率 | 95W(不含计算机) |
仪器重量 | 48KG |
仪器尺寸 | 550*360*410mm |
样品舱尺寸 | 435*330*140mm |
样品台移动 | 高精密 XY 手动滑轨 |
可移动范围 | 50mm*50mm |
放大倍数 | 光学 38-46X,数字放大 40-200X |
对焦方式 | 高敏感镜头,手动对焦 |
样品观测 | 1/2.7 ”彩色 CCD,变焦功能 |
测量元素范围 | Cl(17)~U(92) |
涂镀层分析范围 | Li(3)~U(92) |