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深圳市拓邦特机电有限公司
XU-100膜厚仪
XU-100是一款高性价比型镀层测厚仪/膜厚测试仪/光谱测厚仪,采用下照式C型腔体设计,搭配微聚焦X射线发生器和高集成垂直光路系统,以及高敏变焦测距装置,对各种大小异形件都可快速、精准、无损测量。
检测各种金属镀层,检出限可达0.005μm,最小测量面积0.2mm²,凹槽深度测量范围可达0-30mm,是一款测量镀层厚度性价比高、适用性强的机型。

XU-100是一款高性价比型镀层测厚仪/膜厚测试仪/光谱测厚仪,采用下照式C型腔体设计,搭配微聚焦X射线发生器和高集成垂直光路系统,以及高敏变焦测距装置,对各种大小异形件都可快速、精准、无损测量。
检测各种金属镀层,检出限可达0.005μm,最小测量面积0.2mm²,凹槽深度测量范围可达0-30mm,是一款测量镀层厚度性价比高、适用性强的机型。


产品特点

1.下照式设计


可以快速方便地定位对焦样品。


2.高精密微型移动滑轨

快速精准定位样品。

3.
微焦X射线装置

最小检测面积可达0.2mm²的样品,可进行各类电镀层膜厚检测。


高效率正比接收器即使测试0.2mm²的样品,几秒钟也能达到稳定性。

4.
变焦装置算法

可对各种异形凹槽进行检测,凹槽深度测量范围可达0-30mm。


5.先进的EFP算法

多层多元素,包括有同种元素在不同涂镀层的检测,都可以快、准、稳的做出数据分析。



规格参数

电源 220VAC
功率95W(不含计算机)
仪器重量48KG
仪器尺寸550*360*410mm
样品舱尺寸435*330*140mm
样品台移动高精密 XY 手动滑轨

可移动范围

50mm*50mm
放大倍数光学 38-46X,数字放大 40-200X
对焦方式高敏感镜头,手动对焦
样品观测1/2.7 ”彩色 CCD,变焦功能
测量元素范围

Cl(17)~U(92)

涂镀层分析范围Li(3)~U(92)

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