XU-100是一款高性价比型镀层测厚仪/膜厚测试仪/光谱测厚仪，采用下照式C型腔体设计，搭配微聚焦X射线发生器和高集成垂直光路系统，以及高敏变焦测距装置，对各种大小异形件都可快速、精准、无损测量。
检测各种金属镀层，检出限可达0.005μm，最小测量面积0.2mm²，凹槽深度测量范围可达0-30mm，是一款测量镀层厚度性价比高、适用性强的机型。

产品特点

1.下照式设计


可以快速方便地定位对焦样品。


2.高精密微型移动滑轨

快速精准定位样品。

3.
微焦X射线装置

最小检测面积可达0.2mm²的样品，可进行各类电镀层膜厚检测。


高效率正比接收器即使测试0.2mm²的样品，几秒钟也能达到稳定性。

4.
变焦装置算法

可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm。


5.先进的EFP算法

多层多元素，包括有同种元素在不同涂镀层的检测，都可以快、准、稳的做出数据分析。


规格参数